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TEM全角度三維重構樣品臺的詳細資料:
TEM全角度三維重構樣品臺在搭載直徑3 mm銅網的傳統三維重構樣品臺的基礎上延伸,采用彈頭的單軸旋轉方式進行繞樣品臺全角度360°觀察,可以接受棒狀或圓錐形樣品。通過一系列的不同傾斜角獲得樣品的二維成像信息,并對其進行處理轉化為三維信息,不僅可進行樣品的三維重構,還可用于樣品材料的掃描透射模式下高角環形暗場成像(HAADF-STEM)的高分辨分析。
TEM全角度三維重構樣品臺
●可進行全角度360°圖像采集,避免鍥形信息丟失;
●實現精密的樣品軸向旋轉;
●適合棒狀樣品或圓錐形樣品;
●特別適合聚焦離子束(FIB)制備的樣品;
●特別適合原子探針斷層掃描(APT)和場離子顯微鏡(FIM)的樣品;
●兼容所有物鏡極靴。
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